Mikroskopy a počítače pro zpracování dat
Transmisní elektronové mikroskopy
JEM-1400 JEOL
- Urychlovací napětí: 80 - 120 kV
- Katoda: wolframové vlákno nebo LaB6
- Rozlišovací schopnost: 0.38nm (bodová)
- Tvorba obrazu: CMOS camera XAROSA (EMSIS GmbH) 20 MP
- Vacuum: 10-5 Pa
- Tomogragický kryo-držák Fishione 2550
- Tomografický držák High-tilt 80 deg
- Držák na 4 síťky
- Software pro Stitching (sešívání obrazu) a korelativní mikroskopii
- Kontaktní osoba: Vaněček Jiří
- Rezervační systém
JEM–2100F JEOL
- Urychlovací napětí: 200 kV
- Volitelně: 120 kV a 100 - 80 kV
- Katoda: Schottkyho emise (W-ZrO)
- Rozlišovací schopnost: TEM – bodová 0.27 nm, mezikrystalových rovin 0.14 nm,
- Tvorba obrazu: GATAN K2 Kamera s přímou detekcí elektronů 3838x3710, Super-rozlišení 7676x7420
- Lineární mód, počítací mód s korekcí posuvu
- JEOL Phase Plate (VOLTA)
- Tomografický kryo držák Elsa 698 s ovládáním teploty
- Pracovní stanice pro přenášení kryo-vzorků
- Tomografický držák s piezoelektrickým posuvem
- Tomografický software SerialEM
- Software automatického snímání pro analýzu jednotlivých částic
- Vacuum: 10-8 Pa
- Solarus II advanced plasma system (pumping station with plasma cleaner Ar+O2)
- Kontaktní osoby: Bílý Tomáš Ph.D., Gardian Zdenko, Ing. Ph.D.
Rastrovací elektronové mikroskopy/Skenovací elektronové mikroskopy
Verios 5 UC
- Field emission (Schottky)
- Rozlišovací schopnost: 0.6nm @15kV, 0.7nm @1kV, 1nm @500V, STEM 0.6nm @30kV
- Vacuum: HiVac 3x10-6 mbar.
- STEM 3+ Detector
- EDS detector Quantax FlatQUAD (Bruker), energy resolution 129 eV at Mn
- Kα; a sběrným úhlem detektoru (highest solid angle)> 1.1 sr,
- Witec RISE confocal Raman microscope (Oxford Instruments); 532 nm, 785 nm; spectrometer UHTS 300S Green-NIR, grating 300, 600, 1800 gr/mm,
- epifluorescence, objective 100x/0,75 NA
- Cryo System PP3010 Quorum
- MAPS 3 for SEM with correlative workflow
- Kontaktní osoba: Vaněček Jiří
- Rezervační systém
Apreo ThermofisherScientific
- Urychlovací napětí: 0.2 – 30 kV
- Energie dopadajících elektronů: 20 eV – 30 keV
- Katoda: Field emission (Schottky)
- Rozlišovací schopnost: 0.7nm @15kV, 0.8nm @1kV, 0.9nm @500V, STEM 0.8nm @30kV, LowVac 1.8nm @3kV
- Zachycení obrazu: až 6144 x 4096 px
- Vacuum: HiVac 10-2 – 10-4 Pa, LowVac 10–500 Pa
- Stage: rozsah náklonu +-90 stupňů
- Další možná využití: Serial Block Face (VolumeScope), Array tomografie, Stitching software (MAPS), STEM holder for 6 TEM grids, Amira visualization software
- Kontaktní osoba: Týč Jiří, RNDr. Ph.D.
Světelné Mikroskopy
Nikon Eclipse Ts2FL - OTUS
- Optický, fluorescenční, invertovaný mikroskop
- Diaskopické zobrazování + epifluorescence
- Monochromatická kamera s vysokou citlivostí (QE 82%)
- NIS Elements - software pro získávání a analýzu obrazu
- vícekanálová fluorescence, počítání buněkm tvar buněk, intenzita fluorescence.
- Objektify Plan Fluor 4x, 10x a 40x
- dostupné filtry - excitace 538-580nm/emise 590-670nm; excitace 500-550nm/emise 565-635nm
